馮衛(wèi)東主任出席國際考試行業(yè)協(xié)會（ATP） 第20屆年會
3月17日至21日，財政部會計資格評價中心黨委書記、主任馮衛(wèi)東一行出席在美國佛羅里達(dá)州奧蘭多市（Orlando）召開的國際考試行業(yè)協(xié)會（Association of Test Publishers,縮寫為ATP）第20屆年會。 本屆年會以“考試中的創(chuàng)新：挑戰(zhàn)·變革·發(fā)展（Innovations in testing: Challenge.Transform.Evolve.)” 為主題，議題包括考試測評技術(shù)創(chuàng)新、考試安全與防范措施、考試信息分析與管理、人才評價與選拔、教育測量與心理學(xué)等內(nèi)容，突出了考試測評行業(yè)在信息網(wǎng)絡(luò)技術(shù)浪潮下所面臨的變革與對策。來自全球考試主辦方、考試技術(shù)與運營服務(wù)方、考試內(nèi)容開發(fā)機(jī)構(gòu)、心理與測評研究機(jī)構(gòu)等30個國家和地區(qū)考試業(yè)界代表1,300余人參加了本屆年會。
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